光譜法合金分析儀工作原理介紹

        合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于識別和量化物質(zhì)中的特定元素。它可以根據X射線(xiàn)的發(fā)射波長(cháng)（λ）和能量（E）確定特定元素，并通過(guò)測量相應射線(xiàn)的密度來(lái)確定該元素的含量。 XRF光譜可以確定物質(zhì)的元素組成。
        每個(gè)原子都有自己固定數量的電子（帶負電的粒子）圍繞原子核運行。并且電子的數量等于原子核中的質(zhì)子（帶正電的粒子）的數量。質(zhì)子數由元素周期表中的原子數可知。每個(gè)原子序數對應一個(gè)固定的元素名稱(chēng)。能量色散X-熒光和波長(cháng)色散X-射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)專(zhuān)門(mén)研究和應用了內層的三個(gè)電子軌道，即K、L和M。K軌道*接近于原子核，每個(gè)電子軌道對應于某種元素的特定能量層。
        在 XRF 分析中，從 X 射線(xiàn)管發(fā)射的高能初級射線(xiàn)光子撞擊樣品元素。這些初級光子包含足夠的能量來(lái)?yè)袈鋬葘樱↘ 層或 L 層）中的電子。此時(shí)，原子變成不穩定的離子。由于電子本能地尋求穩定性，因此來(lái)自外層 L 或 M 層的電子進(jìn)入構成內層的空間。當這些電子從外層傳遞到內層時(shí)，它們會(huì )釋放出稱(chēng)為二次 X 射線(xiàn)光子的能量。整個(gè)過(guò)程稱(chēng)為熒光輻射。每種元素的二次射線(xiàn)都有自己的特點(diǎn)。 X射線(xiàn)光子熒光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉換過(guò)程中內外層的能量差決定的。特定元素在一定時(shí)期內發(fā)射的 X 射線(xiàn)的數量或密度可用于測量該元素的數量。典型的 XRF 能量分布光譜顯示了不同能量下的光子密度分布。